WZORCOWANIE MIKROMETRÓW

 
Mikromery do pomiarów zewnętrznych z odczytem cyfrowym i analogowym:

- z płaskimi powierzchniami pomiarowymi,
- z powierzchniami sferycznymi do pomiaru grubości ścianek, blach,
- z powierzchniami talerzykowymi do pomiaru grubości zębów,
- z urządzeniem czujnikowym,
- z wymiennymi kowadełkami, z przesuwnym kowadełkiem,
- do pomiaru rowków zewnętrznych, średnic wieloklinów - mikrometr ostrzowy

Mikrometry do pomiarów wewnętrznych cyfrowe i analogowe:

- szczękowe do pomiaru średnic otworów,
- do pomiaru kanałków, szerokości rowków i wcięć,

Kalibrację mikrometrów do pomiarów zewnętrznych wykonujemy w zakresie do 1000mm, mikrometrów do pomiarów wewnętrznych w zakresie do 600mm.
Wykonujemy kalibrację wzorców nastawczych do 500mm.

Wzorcowanie mikrometru do pomiarów zewnętrznych z płaskimi powierzchniami pomiarowymi obejmuje:

- wyznaczenie odchyłek płaskości powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka mikrometru,
- wyznaczenie odchyłki równoległości powierzchni pomiarowych mikrometru,
- zmiany równoległości powierzchni pomiarowych po zaciśnięciu wrzeciona,
- siły nacisku pomiarowego mikrometru,
- błędów wskazań mikrometru w punktach pomiarowych odpowiadających ¼ obrotu śruby mikrometrycznej w całym jego zakresie pomiarowym.
Punkty pomiarowe: A+5,12 mm, A+10,25 mm, A+15,37 mm, A+21,50 mm, A+25,00 mm,
gdzie: A – wartość dolnej granicy zakresu pomiarowego mikrometru

Do wzorcowania mikrometrów zewnętrznych z płaskimi powierzchniami pomiarowymi stosujemy:
1. Płaskie płytki interferencyjne,
2. Komplety płaskorównoległych płytek interferencyjnych,
3. Płytki wzorcowe o zakresie pomiarowym (0,5 ÷ 100) mm, (125 ÷ 500) mm oraz dedykowane komplety płytek wzorcowych o długościach nominalnych przeznaczonych do sprawdzania mikrometrów,
4. Stanowisko do sprawdzania siły nacisku pomiarowego wrzeciona mikrometru,
5. Statyw do mocowania mikrometru.

Zastosowanie w/w wzorców i przyrządów kontrolnych w procesie kalibracji mikrometrów:
- płaskości powierzchni pomiarowych mikrometru sprawdzamy za pomocą płaskiej płytki interferencyjnej,
- równoległości powierzchni pomiarowych mikrometru oraz zmianę równoległości powierzchni pomiarowych mikrometru spowodowaną unieruchomieniem śruby mikrometrycznej poprzez zaciśnięcie jego wrzeciona sprawdzamy za pomocą płaskorównoległych płytek interferencyjnych stopniowanych, co ¼ obrotu śruby mikrometrycznej,
- błędy wskazań mikrometru sprawdzamy za pomocą płytek wzorcowych dokonując ich pomiaru wzorcowanym mikrometrem,
- siłę nacisku pomiarowego sprawdzamy za pomocą stanowiska do pomiaru siły nacisku wrzeciona mikrometru

Niepewność pomiaru
W skład budżetu niepewności pomiaru przy wzorcowaniu mikrometru (wyznaczenia jego błędów wskazań) zaliczamy niepewności związane z:
- rozrzutem wskazań w punktach pomiarowych,
- rzeczywistą długością zastosowanej do wzorcowania płytki wzorcowej,
- średnim temperaturowym współczynnikiem rozszerzalności mikrometru i płytki wzorcowej,
- różnicą temperatur mikrometru i płytki wzorcowej po wymaganym czasie stabilizacji termicznej,
- poprawką ze względu na ograniczoną rozdzielczość układu odczytowego mikrometru - możliwość interpolacji działki elementarnej analogowego układu odczytowego, rozkład prostokątny związany z dyskretnym układem odczytowym mikrometrów elektronicznych,
- poprawką ze względu na oddziaływania mechaniczne - nacisk pomiarowy -sprzęgło mikrometru,
- odchyłki płaskości i równoległości płaszczyzn pomiarowych mikrometru.

Przy wszystkich wzorcowanych przez nas parametrach mikrometru podajemy otrzymany wynik wraz oszacowana niepewnością pomiaru, która stanowi niepewność rozszerzoną przy współczynniku rozszerzenia k=2 i poziomie ufności ok. 95%.

Doradzamy w tworzeniu instrukcji wzorcowań, instrukcji szacowania niepewności oraz wszelkiego rodzaju procedur pomiarowych.